闪存进入3D时代之后的变革越来越快，如何在存储控制器的设计时就能够考虑好产品应用的高可靠性，有哪些重點是在芯片設計端就需要考慮的？从控制器到模块的过程中，如何通过系統硬件设计保证产品的可靠，如何设计存储模块测试流程，使得测试模式更加全面有效，并能够和控制器设计进行有效配合，是未来保证模块可靠性的前提条件。